IEEE1149．4标准为解决数模混合电路边界扫描测试提供了有效的方法；在IEEE1149．4标准提出的模拟互连测试结构的基础上，结合网络撕裂法故......

IEEE1149.4标准(DOT4)为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法,对于数模混合差分电路的互联测试,一直是数模混合电路中......

IEEE1149．4标准为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法；在IEEE1149.4标准所提出的模拟互连测试结构的基础上，结合K节点故......

简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE11......

将边界扫描技术与网络技术结合，解决高密度电路系统特别是混合信号电路及复杂测试环境带来的测试问题，可实现远程测试与故障诊断；设计......

边界扫描测试技术作为当前电子测试技术的热点，其应用与发展是令人瞩目的。本文通过对边界扫描技术一系列协议的简单介绍和剖析，讨论......

现代装备火控系统中混合信号电路越来越普及,为了实现对其快速故障诊断,以IEEE 1149.4标准为依据,设计实现了一个基于边界扫描技术......

分析了符合IEEE1149．4标准IC的工作机制及其对测试系统的功能需求，设计了符合IEEE1149．4标准的测试系统，重点论述了IEEE1149．4测试系统......

<正> 混合信号电路(Mixed-signalCircuits)广泛应用于通信、多媒体、工业电子和消费类电子产品中。其测试方法有很多,其中基于边界......

SoC技术的迅速发展,对SoC中混合信号测试技术研究提出了迫切需求.分析了混合信号电路测试的各种问题,总结了常见的混合信号电路的......

传统探针测试方法已不再适用于当前集成化程度越来越高的电路,于是边界扫描测试技术应运而生。该技术的原理是在被测电路内部插入......

文中介绍了使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试.通过对测试结果......

根据混合信号边界扫描测试的工作机制,提出了符合1149.4 标准的测试方法,并用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统进行了测试......

IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计（DFT）技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚......

针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题,设计了基于IEEE1149.4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统;该......

随着电子系统的集成度越来越高,内部结构越来越复杂,传统的物理探针已经无法满足测试要求。简要介绍了IEEE1149.4标准和支持向量机......

在深入研究IEEE1149．1及IEEE1149．4标准的基础上，对基于边界扫描的混合信号电路的可测性结构进行了探索；对所设计混合信号电路可测性结......

随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。可测性设计成为解决测试问题的主要手段之一,而边界......